プローブカード測定治具(微細穴サンプル加工) « 株式会社 木村製作所

Select Language :
  • HOME
  • Lavori
  • Prodotti
  • (Ja)VA/VE
  • Chi siamo?
  • Accesso
  • News
  • Diario
  • Contattateci

プローブカード測定治具(微細穴サンプル加工)

  • HOME
  • Prodotti
  • プローブカード測定治具(微細穴サンプル加工)
  • プローブカード測定治具(微細穴サンプル加工)
  • プローブカード測定治具(微細穴サンプル加工)
Materiale
マセライトMMHSP(黒崎播磨製)
Dimensioni
0.1X10X10
Precisione
Φ30μm貫通 50カ所
Industria
半導体

Ci spiace, ma questo articolo è disponibile soltanto in Giapponese.

その他の製品事例

コイル受けステージ(コンデンサ製造装置部品)
半導体製造装置部品
半導体製造装置部品
プローブカード測定治具(微細穴 1000箇所)
レーシングカー部品
鏡面研削加工部品
プローブカード測定治具(微細穴サンプル加工)
超精密非球面加工(無電解NiP)
耐熱ガラスに対する切削加工
位置精度・寸法精度 数ミクロン台を実現する超精密加工
工作機械部品 偏芯ブッシュ
工作機械部品 ホブカッター

read more

その他の製品カテゴリ

  • Lavorazione
  • 超精密・ナノ加工センター.com
  • 研削・切削加工センター.com
  • リバースエンジニアリング工場.com
  • zeeko

KIMURA INDUSTRY

  • Sede e fabbrica a Nagaoka
    • +81-75-953-2721
  • Laboratorio di nanotecnologia
    • +81-75-874-2855
  • Cina, ufficio di Pechino
Copyright © 2006-2025 KIMURA INDUSTRY All Rights Reserved.